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SiCウエハ

SiCrystal社製4インチSiCウエハSiCrystal社製6インチSiCウエハSiCrystal社製8インチSiCウエハLattice社製PタイプSiC ウエハLattice社製3C-NタイプSiC ウエハその他中国メーカー6インチ〜8インチSiCウエハ及びインゴット

SiCエピタキシー成膜サービス

普興電子社製SiCエピサービス

SiCファウンドリーサービス

mi2-factory社によるフィルター式SiCイオン注入HZDR Innovation社によるイオン注入サービスNovaSiC社によるSiCウエハ加工サービスFraunhofer IISB社によるSiCデバイスプロセスサービス

GaN基板

Ammono社製（Unipress）1インチGaN基板Ammono社製（Unipress）2インチGaN基板Nanowin社製2〜4インチGaN基板Eta Research社製2〜4インチGaN基板

GaNエピタキシー成膜サービス

SweGaN社製QuanFINE基板Seen Semiconductors社製GaNエピサービスEnkris Semiconductor社製GaNテンプレートEnkris Semiconductor社製AlNテンプレートEnkris Semiconductor社製GaN on SiYLT Link社製 GaNテンプレートYLT Link社製 AlNテンプレートYLT Link社製 GaN on Si

GaN LEDエピウエハ

Enkris Semiconductor社製LED GaNエピウエハ(Sapphire/Si)Saphlux社製AR用マイクロLEDディスプレイSaphlux社製Direct View QD-mLEDパネル

半導体用検査・製造装置

セラミックフォーラム社製Crystalline Tester® CS2セラミックフォーラム社製Crystalline Tester® CP1Phystech社製DLTS測定装置LayTec社製in-situ測定装置LayTec社製ウエハマッパー装置AEHR社製バーイン装置秀和工業社製研削・研磨装置エピクエスト社製KOHエッチング・MOCVD・MBE・酸化装置雄飛社製エッチングライナー・プロファイラーInstec社製ステージ及びプローブシステムニデック社製平坦度測定装置

その他

FTDiam 社製HPHTダイヤモンド基板

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