セラミックフォーラムはPhystech社(ドイツ)のホール効果測定システムを取り扱っております。
Phystech社RH2010、RH2035は、半導体材料の比抵抗とホール効果を測定するシステムになります。コンパクトな卓上システムでありながら、測定の柔軟性が非常に高く、低抵抗から高抵抗までの広範な半導体材料をカバーし、高額な大型システムと同等の測定ができるように設計されています。
RH2010は、電磁石を使用して、変動磁場を利用した測定(例えば、磁場依存性測定)が可能であり、RH2035は、永久磁石を使用することで、簡便な測定を可能にします。
標準構成には、サンプルキャリア付きのサンプルホルダーと、室温および液体窒素温度で測定できる2-温度対応サンプルステージが含まれます。
項目 | RH2010 | RH2035 |
本体 | ||
寸法 | 310 x 449 x 411mm | 310 x 205 x 90mm |
重量 | 20kg | 1kg |
電源 | 110~240V, 600W (3A) | 110~240V |
電流ソース | ||
利用可能電流 | 100pA~10mA | 1nA~10mA |
アウトプット電圧 | ± 10V (± 20V) | ± 10V (± 20V) |
アウトプット抵抗 | 通常 10^13Ω | 通常 10^13Ω |
最大電流分解能 | 2.5 pA | 25 pA |
電圧測定部 | ||
利用可能電圧 |
10μV~10V
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10μV~10V
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分解能 |
<1μV (通常500nV)
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<1μV (通常500nV)
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インプット抵抗 |
<10^15Ω
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>10^13Ω
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磁石 | ||
最大アウトプット電圧 | 95V |
永久磁石
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最大電流 |
5A
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永久磁石
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重量 |
25kg
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2kg
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磁極先端部の直径
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38mm
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20mm
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パフォーマンス(電気部品の原理的限界)
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低効率 |
1x10^4Ω ~1x10^9Ω
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1x10^-3Ω ~1x10^8Ω
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低効率(膜厚1μmの場合) |
1x10^-6Ωcm ~ 1x10^7Ωcm
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1x10^-5Ωcm ~ 1x10^7Ωcm
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濃度(膜厚1μmの場合) |
1x10^7cm^-3 ~ 10^21 cm^-3
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1x10^7cm^-3 ~ 10^20 cm^-3
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