Ceramicforum的宽禁带半导体与玻璃溶解技术

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检查设备

半导体检查设备介绍。

DLTS测量设备

提供以微软软件为基础的多功能和测量模式、时间常数值的最小3倍为止的重叠释放信号的分离新测量・解析模式服务。

拉曼显微镜

世界最快最高画质显微镜。

PL Mapping设备

以低价格、无余缺的理念提供技术人员真正想要的性能的photoluminescence设备。

CS-1 晶片内位错检测仪

Crystalline Tester CS1”是非破坏性、非接触式检测可见光(波长400~800nm)透明性晶体材料中由于残留的缺陷、应力引起的晶格畸变后分布情况的便捷式检测设备。通过本设备可以实现快速、准确地把握目检下无法看到的晶体晶格畸变的状态。

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