检查设备
半导体检查设备介绍。
DLTS测量设备
提供以微软软件为基础的多功能和测量模式、时间常数值的最小3倍为止的重叠释放信号的分离新测量・解析模式服务。
CS-1 晶片内位错检测仪
Crystalline Tester CS1”是非破坏性、非接触式检测可见光（波长400～800nm）透明性晶体材料中由于残留的缺陷、应力引起的晶格畸变后分布情况的便捷式检测设备。通过本设备可以实现快速、准确地把握目检下无法看到的晶体晶格畸变的状态。
半导体检查设备介绍。
DLTS测量设备提供以微软软件为基础的多功能和测量模式、时间常数值的最小3倍为止的重叠释放信号的分离新测量・解析模式服务。
CS-1 晶片内位错检测仪Crystalline Tester CS1”是非破坏性、非接触式检测可见光（波长400～800nm）透明性晶体材料中由于残留的缺陷、应力引起的晶格畸变后分布情况的便捷式检测设备。通过本设备可以实现快速、准确地把握目检下无法看到的晶体晶格畸变的状态。